O que é um Scanning Probe Microscope

? Um microscópio de varredura por sonda é o instrumento utilizado para a realização de microscopia de varredura por sonda , uma categoria de técnicas empregadas para a imagem latente e superfícies e texturas em uma escala de medição , usando uma variedade de técnicas de sondagem para medir a forma de a superfície em vez de observá-lo diretamente com uma lente. Um microscópio de varrimento de sonda pode realizar exames de baixo para o nível de moléculas individuais ou grupos de átomos de todo o caminho até 100 micrómetros + na direcção XY ( comprimento e largura da superfície ) e 4 + em Z ( profundidade da superfície ) direção. Como Funciona

Um microscópio de varredura por sonda funciona movendo uma ponta muito fina (cerca de 3 a 50 nanômetros de curvatura ) em toda a superfície de um objeto. Esta ponta é ligado a um braço flexível, que lhe permite seguir exactamente a superfície . Enquanto isto ainda é acima da escala a ser medido , quando a ponta se move na proximidade de uma perturbação na superfície do objecto , as forças de interacção medidos nesta escala mover o braço e são detectadas e registadas por meio de sensores .

microscopia de Força Atômica

microscopia de força atômica é uma forma de SPM que mede e registra a força de interação entre a ponta da sonda ea superfície do objeto. Dependendo do sistema e a superfície a ser medida , a sonda pode ser arrastado através de uma superfície ou vibrar a velocidades diferentes . O deslocamento do cantilever - a viga que suporta a ponta e se move para cima e para baixo - é medido por brilhando um laser na parte superior do mesmo e examinando quando que o laser é deslocado
< br. > Scanning Tunneling Microscopy

Scanning Tunneling medidas de microscopia a corrente elétrica que flui entre a superfície ea ponta da sonda como ele se move através da superfície, enquanto a superfície ea ponta são mantidos a uma distância definida . A corrente real medida é uma corrente de tunelamento quântico entre uma ponta de silício e da superfície.
Near Field Scanning Optical Microscopy

Near Field Scanning Optical Microscopy mede uma fonte de luz pequena muito perto da superfície. Ao detectar a luz , a imagem é formada . Cientistas recolher dados a partir da luz que é reflectida pela superfície de transmissão , que se reflecte para fora do detector , e a partir de modos fluorescentes (que ocorrem quando a superfície produz a luz ) , embora a luz transmitida transporta a maior parte da informação de um sinal mais elevado .
desvantagens

SPM tem algumas desvantagens , incluindo mas não se limitando ao fato de que com uma ponta suficientemente bem, você é incapaz de determinar a forma da ponta - - o que tem um efeito perceptível sobre os dados. Além disso, a taxa de varredura é incrivelmente lento, embora muitos cientistas estão trabalhando para melhorar isso. Finalmente , não é útil para examinar a superfície entre os tipos similares de material, como quando dois sólidos ou dois líquidos estão tocando.